Phenom ProX G7 是飛納推出的臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)，可用于金屬材料形貌與元素分析，幫助觀察斷口、腐蝕、夾雜和缺陷區(qū)域。

Phenom ProX G7 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X，分辨率優(yōu)于 6 nm，采用 CeB6 燈絲，并集成掃描電鏡成像與能譜分析能力，適合形貌觀察、微區(qū)元素分析和材料研發(fā)檢測(cè)。

該產(chǎn)品適合高校實(shí)驗(yàn)室、企業(yè)研發(fā)中心、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)及工業(yè)質(zhì)檢場(chǎng)景。具體配置和價(jià)格根據(jù)樣品類型、探測(cè)器配置、能譜分析需求及服務(wù)方案確定，可通過(guò)平臺(tái)詢價(jià)/留言入口獲取選型建議，并預(yù)約試樣。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1. 臺(tái)式掃描電鏡與能譜分析能力結(jié)合。

2. 電子光學(xué)放大倍數(shù)可達(dá) 350,000 X。

3. 分辨率優(yōu)于 6 nm，適合常規(guī)材料微觀形貌觀察。

4. CeB6 燈絲壽命優(yōu)于 3000 小時(shí)。

5. 支持高/低真空模式。

6. 標(biāo)配背散射探測(cè)器和能譜探測(cè)器，可選配二次電子探測(cè)器。

7. 適合顆粒、異物、缺陷區(qū)域和材料微區(qū)成分分析。

8. 支持選型咨詢，可預(yù)約試樣。

應(yīng)用領(lǐng)域：

可用于金屬材料形貌與元素分析、斷口觀察、腐蝕分析、夾雜物輔助判斷和企業(yè)質(zhì)檢。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品型號(hào)：Phenom ProX G7

產(chǎn)品全稱：ProX 電鏡能譜一體機(jī)

產(chǎn)品類型：臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)

光學(xué)放大：27 - 160 X

電子光學(xué)放大：350,000 X

分辨率：優(yōu)于 6 nm

電子槍：CeB6 燈絲，使用壽命優(yōu)于 3000 小時(shí)

光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)：彩色

加速電壓：基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV

高級(jí)模式：4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調(diào)

真空模式：高 / 低真空

探測(cè)器：背散射探測(cè)器、能譜探測(cè)器

可選探測(cè)器：二次電子探測(cè)器

常見問題：

1. 這款設(shè)備適合做什么分析？適合材料形貌觀察、微區(qū)元素分析、顆粒異物分析、失效分析和研發(fā)質(zhì)檢。

2. 是否可以做元素分析？可以。該產(chǎn)品為電鏡能譜一體機(jī)，可用于顆粒、異物或局部區(qū)域的元素分析。

3. 價(jià)格是多少？?jī)r(jià)格根據(jù)配置、探測(cè)器選項(xiàng)和應(yīng)用需求確定，可通過(guò)平臺(tái)詢價(jià)入口獲取選型建議，并預(yù)約試樣。

如需了解 Phenom ProX G7 在金屬材料元素分析中的配置方案、應(yīng)用資料或報(bào)價(jià)信息，可通過(guò)平臺(tái)詢價(jià)/留言入口提交樣品類型與測(cè)試需求，獲取選型建議，并預(yù)約試樣。